Page 369 - จดหมายเหตุงานพระบรมศพ

การจัดเตรียมงานพระราชพิธีถวายพระเพลิงพระบรมศพ ๑๓๖๗
พระบาทสมเด็จพระปรมินทรมหาภูมิพลอดุลยเดช บรมนาถบพิตร

การตรวจสอบวิเคราะหโดยเครื่องมือทางวิทยาศาสตร ดําเนินการ ดังนี้
(๑) การวิเคราะหสีบนพื้นผิวราชรถ ราชยาน และพระยานมาศดวยเครื่อง

Colorimeter วิเคราะหการเปลี่ยนสีของทองคําตามตําแหนงตาง ๆ และวิเคราะหความ
แตกตางของสีที่ใชในการซอม
(๒) การวิเคราะหชนิดและปริมาณของโลหะดวยเทคนิค X - Ray Fluorescence

spectrometry (XRF) ซึ่งเทคนิค XRF เปนเทคนิคที่ใชวิเคราะหเพื่อหาปริมาณธาตุ
องคประกอบในสารตัวอยาง โดยใชการวัดปริมาณรังสีเอ็กซฟลูออเรสเซนที่ปลอย
การวิเคราะหสีดวยเครื่อง
ออกมา จากธาตุองคประกอบแตละชนิดในสารตัวอยาง การวิเคราะหสีดวยเครื่อง
Colorimeter
(๓) การตรวจวิเคราะหชิ้นสวนองคประกอบของ
ราชรถ ราชยาน โดยใชเทคนิคการวิเคราะห ๕ แบบ ไดรับ
ความอนุเคราะหจากศาสตราจารยสนอง เอกสิทธิ์ อาจารย
ประจําภาคเคมี คณะวิทยาศาสตร จุฬาลงกรณมหาวิทยาลัย

และคณะ ดังนี้
แบบที่ ๑ การวิเคราะหดวยเทคนิคการถายภาพ

จากกลองจุลทรรศนแบบใชแสง (Optical microscope -
OM) รุน Carl Zeiss Axio Scope. A1 with a CCD camera
(Carl Zeiss, AxioCamHRc) เปนกลองจุลทรรศนรูปแบบ การวิเคราะหชนิดและปริมาณของโลหะดวยเทคนิค
หนึ่งที่ใชแสงชวยใหมองเห็นภาพ X - Ray Fluorescence spectrometry (XRF)

แบบที่ ๒ การวิเคราะหดวยเทคนิคการถายภาพจากกลองจุลทรรศนอิเล็กตรอนแบบสองกราด (Scanning
Electron Microscope - SEM) รุน JEOL JSM - 6510A เปนกลองจุลทรรศนที่ใชหลักการยิงอิเล็กตรอน แลวตรวจวัด
อิเล็กตรอนที่สะทอนจากพื้นผิวหนาของวัตถุ เกิดเปนภาพสามมิติ สามารถใชควบคูกับเครื่อง Energy Dispersive X - ray

spectrometry - EDX ซึ่งเปนเครื่องตรวจวัดรังสีเอ็กซ ในเครื่อง SEM ทําใหวิเคราะหธาตุตาง ๆ ที่อยูในวัตถุไดเพิ่มเติม
แบบที่ ๓ การวิเคราะหหมูฟงกชันดวยเทคนิคอินฟาเรดสเปคโตรสโคป (FT - IR spectroscopy) จากเครื่อง
Thermo Scientific™ Nicolet iS5 Fourier - Transform Infrared (FT - IR) spectrometer เปนเทคนิคการกระตุน

สารดวยพลังงานแสงชวงแสงอินฟราเรด (infrared light) ที่ความยาวคลื่นตาง ๆ เปนอีกเทคนิคหนึ่งที่สามารถบอกหมู
ฟงกชันในสาร นิยมใชเปนเทคนิคสําหรับการวิเคราะหหาโครงสรางของสารอินทรีย

แบบที่ ๔ การวิเคราะหปริมาณของธาตุองคประกอบดวยเทคนิคเอกซเรยสเปคโตรสโคปแบบกระจาย
พลังงาน(Energy Dispersive X - ray spectrometry - EDX) โดยใชเครื่อง Scanning Electron Microscope - SEM),
JEOL JSM - 6510A รวมกับ Energy Dispersive X - ray (EDX) detector เปนเครื่องตรวจจับตัวหนึ่งที่อยูในระบบของ
SEM สําหรับใชวิเคราะหธาตุตาง ๆ ที่มีอยูในสารตัวอยาง ซึ่งทําหนาที่รับสัญญาณ X - ray จากสารตัวอยาง นิยมทํา

โดยวัดปริมาณรังสีเอ็กซที่เกิดขึ้นจากธาตุที่ตองการวิเคราะหสารมาตรฐาน อาจเปนธาตุบริสุทธิ์ หรือของผสมที่ทราบ
สวนประกอบแนนอน เปรียบเทียบกับปริมาณที่เกิดขึ้นจากธาตุที่ตองการวิเคราะหในสารตัวอยาง

แบบที่ ๕ การวิเคราะหปริมาณความชื้นดวยเครื่องวิเคราะหการเปลี่ยนแปลงนํ้าหนักของสารโดยอาศัย
คุณสมบัติทางความรอน (Thermogravimetric Analysis - TGA) รุน Perkin Elmer, Pyris1TGA เปนเทคนิคที่ใช
วิเคราะหความเสถียรของวัสดุ โดยเฉพาะพอลิเมอรเมื่อไดรับความรอนโดยการวัดนํ้าหนักของวัสดุที่เปลี่ยนแปลง
ในแตละชวงอุณหภูมิดวยเครื่องชั่งที่มีความไวสูง เทคนิคนี้เหมาะสําหรับการวิเคราะหการเปลี่ยนแปลงสภาพของวัสดุ
ที่เกี่ยวของกับการดูดซับแกสหรือระเหยของนํ้า การตกผลึก (crystallization) อันเนื่องมาจากการเปลี่ยนเฟส

1367